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Description
This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. 
Pages
89 pages
Collection
SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
Parution
2011-09-23
Marque
Springer
EAN papier
9781441995476
EAN EPUB
9781441995483
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
8
Taille du fichier
1044 Ko
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Prix
52,74 €

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