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Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies



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Éditeur :

Springer


Paru le : 2020-03-20



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Description


This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based algorithm. The low time impact on the overall optimization processes enables IC designers to perform yield optimization with the most accurate yield estimation method, MC simulations using foundry statistical device models considering local and global variations.  The methodology described by the authors delivers on average a reduction of 89% in the total number of MC simulations, when compared to the exhaustive MC analysis over the full population.  In addition to describing a newly developed yield estimation technique, the authors also provide detailed background on automatic analog IC sizing and optimization.
Pages
237 pages
Collection
n.c
Parution
2020-03-20
Marque
Springer
EAN papier
9783030415358
EAN PDF
9783030415365
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
2
Nombre pages imprimables
23
Taille du fichier
9298 Ko
Ce livre est accessible aux handicaps Voir les informations sur l'accessibilité
Prix
94,94 €
EAN EPUB
9783030415365
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
2
Nombre pages imprimables
23
Taille du fichier
35564 Ko
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Prix
94,94 €

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