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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

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Éditeur :

Wiley-ISTE


Paru le : 2016-08-16

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Description
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
Pages
320 pages
Collection
n.c
Parution
2016-08-16
Marque
Wiley-ISTE
EAN papier
9781848219366
EAN PDF
9781119329657
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
320
Taille du fichier
10476 Ko
Prix
163,47 €
EAN EPUB
9781119329688
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
320
Taille du fichier
7148 Ko
Prix
163,47 €

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