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Richard G. Forbes , Michael K. Miller
Atom-Probe Tomography
Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography.Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field...
Editeur : Springer
Parution : 2014-07-31

Format(s) : ePub
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